特点：
半导体（IC晶片）

从物镜到照明系统，LV-N系列采取了全方位的防眩光措施，确保生成明亮、高对比度的图像。 采用尼康独特设计理念开发的物镜暗场照明系统可实现明亮的暗场观察，从而可对标本差异和缺陷进行高灵敏度的检测。
基板

可使用适合标本观察的标准型和高对比度型DIC插片。LV-N系列十分适合观察设备和精密模具中的细微差异等应用。               
基板（焊点）
LV-N系列在观察有机EL或安装的基板等具有荧光性质的标本时表现出了卓越的性能。
矿物质
LV-N系列十分适合观察具有双折射性质的标本，例如：容易失真的液晶或塑料/玻璃等。
云母
LV-N系列可使用Michelson(TI)和Mirau(DI)反射型双光束干涉测量法。当配合使用测微计目镜时，可在不接触标本的情况下检测和测量标本的细微差异。
LCD（彩色滤光片）
LV-N系列十分适合观察透明标本，例如：光学器件、FPD和载玻片标本。当配合使用C-SP简易起偏器和检偏器时，可进行透射型简易偏光观察。
感光乳
可通过明/暗对比和利用衍射和干涉两种光线属性来显现无色、透明的标本。
纳米粒子（银）
可利用偏光使两束光之间产生干涉以在三维空间中观察无色、透明的标本。